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半导体管特性图示仪抄板案例

  半导体管特性图示仪是世纪芯反向研究的成功案例之一,目前我们已完全攻克了此类产品的技术壁垒,可一次性100%成功克隆此类产品,并可根据用户需求提供定制化服务,实现其产品功能的升级与扩展,帮助客户把握产品的设计思路,融入到自己的设计中,开发出更高端的产品。为了尊重保密协议,现仅做产品介绍:
 

半导体管特性图示仪抄板案例

半导体管特性图示仪抄板案例

  半导体管特性图示仪,可以同时测量两路信号,对两只被测三极管图形各自独立移动,以便进行测量比较。并设测量三端稳压集成稳压电路的专用测试台(选件)。
  主要特点
  显示半导体器件的各种特性曲线
  测量半导体器件静态参数
  测量半导体器件极限参数
  双极型晶体管双簇显示
  主要技术指标
  尺寸重量 320×240×420(高×宽×深)16kg
  用电电源 220V±10%
  Y轴集电极电流范围(IC):10μA/div~0.5A/div分15档,误差不超过±5%
  二极管反向漏电流(IR):0.2μA/div~5μA/div分5档
  IR accuracy:2μA/div、5μA/div误差不超过±5%,1μA/div误差不超过±7%,0.5μA/div误差不超过±10%,0.2μA/div误差不超过±20%
  X轴集电极电压范围(Vce):0.1V/div~50V/div分9档,误差不超过±5%
  基极电压范围(Vbe):0.1V/div~5V/div分6档,误差不超过±5%
  阶梯电流范围:阶梯电流范围0.1μA/级~50mA/级 分18档,1μA/级~50mA/级 误差不超过±5%,0.1μA/级~0.5μA/级 误差不超过±7%
  阶梯电压范围:0.05V//级~1V/级 分5档 误差不超过±5%
  串联电阻:10Ω、10kΩ、0.1MΩ分3档 误差不超过±10%
  校正信号:0.5Vp-p 误差不超过±2%(频率为市电频率),1Vp-p 误差不超过±2%(频率为市电频率)

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